华测检测 
精彩回顾｜CTI受邀出席汽车电子认证方法论与失效分析技术交流会并发表演讲
2024-07-31 03:15:00 
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3887月25日，由南京集成电路产业服务中心举办的“汽车电子认证方法论与失效分析技术交流会”圆满落幕。
CTI华测检测受邀出席并发表《汽车电子认证方法论》、《透过失效分析手段克服挑战》主题演讲，共同探讨汽车电子认证的前沿方法以及如何通过失效分析手段克服技术挑战。
随着新能源汽车的普及和汽车电子技术的不断进步，失效分析将变得更加重要。企业需不断加强失效分析队伍建设，引进先进分析设备和技术手段，以提升产品的质量和可靠性。
培训现场
CTI华测检测将继续提高自己的能力，以满足客户的期望和需求。
如对培训服务有任何需求，请随时与我们联系，将非常乐意与您交流并提供协助。相关服务：汽车芯片可靠性试验
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