芯片化学开盖分析 (Decap)

CTI华测检测拥有完善的芯片、半导体器件失效分析工具，可为您提供完善的开封及失效分析服务，

芯片防静电测试

芯片静电ESD测试是半导体产品先期质量验证的重要关键指针，避免芯片在生产或使用过程中被静电放电所损伤,静电放电防护电路,ESD耐压能力,静电防护能力测试

芯片封装可靠性环境试验

提供完整的半导体产品芯片可靠性试验项目，协助客户通过JEDEC、MIL—STD、AEC-Q等可靠性国际试验标准

痛风类用药指导

痛风类用药指导、别嘌醇个体化用药基因检测

传导瞬态发射

依据ISO 7637标准进行汽车电子零部件瞬态传导抗扰（电源线）CTE测试

心脑血管类用药指导

心脑血管类用药指导、他汀类个体化用药检测、氯吡格雷个体化用药检测、阿司匹林个体化用药基因检测、硝酸甘油个体化用药基因检测、降血压/降血糖/降血脂用药基因检测、慢病个体化用药基因检测

面板驱动芯片RA老化服务

全面评估芯片在长期使用过程中的性能稳定性和可靠性，芯片老化测试,芯片RA检测,芯片RA测试,驱动芯片

芯片去层分析 (Delayer)

可帮助客户深入了解芯片的内部结构和性能，并为产品改进提供有力支持。