RA可靠性测试｜芯片寿命测试：确保电子设备可靠性的关键步骤

　　在当今高度数字化的时代，芯片的可靠性对于各类电子设备的性能和稳定性起着至关重要的作用。CTI华测检测可提供芯片寿命测试，为芯片的可靠性提供了全面而精准的评估方案。

　　HTOL测试（高温工作寿命测试）

　　洞悉芯片高温下的寿命奥秘         

　　1、测试原理与核心价值

　　HTOL测试是一种基于高温和电压加速机制的可靠性测试方法。

　　在现代电子设备的运行环境中，芯片常常面临高温的挑战，这种测试方式能够在相对较短的时间内模拟芯片长时间处于高温工作状态下的性能表现，从而预估其在未来实际使用过程中的正常工作寿命。这一测试的时长通常在1000小时左右，作为抽样测试，它在168小时、500小时和1000小时等关键时间节点进行功能测试，以严谨地验证HTOL实验结果，确保测试数据的准确性和可靠性。

　　2、测试条件的精细设定

　　测试条件涵盖了多种温度设定，如85℃、125℃、105℃、150℃，以及时长设定如1000h、2000h等。值得注意的是，在不同的产品领域，对于温度测量的关注点有所区别。在消费类和工业类产品中，大多以结温T_j为主要考量因素，而在车规产品中，环温T_a则成为关键指标（在某些特定情况下，T_j可替代T_a）。这种因应用场景而异的设定，体现了HTOL测试在不同行业需求下的精准适应性。

　　3、芯片不同阶段的针对性检测策略

　　HTOL测试

　　测试设备：CTI华测检测提供了一套完备的测试设备组合，包括OVEN、DI、LC-HPB-5C/4B。这些设备针对不同类型和功耗的芯片，能够提供精准的测试环境。

　　测试顺序：在芯片的检测流程中，HTOL测试最先进行。其测试向量一般与Burn-In相似（Burn-In可能存在部分差异），在125℃的温度条件下，进行1000h不等的测试，这一过程犹如一场芯片的高温耐力赛，目的在于精确评估芯片的寿命极限。

　　ELFR测试

　　测试设备：与HTOL测试设备相适配（虽未明确单独设备，但具有协同性）。

　　测试顺序：可与HTOL测试同步开展，这一设计在不增加过多测试时间成本的前提下，提高了测试效率。其测试温度可能更高，时长为24h/48h，如同在芯片的早期筛选中设置了一道严格的关卡，能够提前识别出潜在的问题芯片。

　　Burn-in测试

　　测试设备：同样与整体测试设备体系协同（未单独明确特定设备）。

　　测试顺序：最后进行，测试温度也可能更高，时长在2h-24h之间。这一测试环节就像是芯片量产出货前的最后一道安检，确保每一颗流向市场的芯片都具备稳定可靠的性能。

　　4、定制化的HTOL测试平台

　　CTI华测检测深知不同功耗芯片的测试需求差异，因此提供了五种针对不同功耗芯片的HTOL测试平台：

　　0W—1W功耗芯片采用OVEN平台；

　　1W—5W功耗芯片采用非独立温控机台DI DL601；

　　5W—50W功耗芯片采用独立温控机台MCC-LC2-H1；

　　50W—150W功耗芯片采用独立温控机台MCC-HPB-5C；

　　150W—600W功耗芯片采用独立温控机台MCC-HPB-4B。

　　LTOL测试（低温工作寿命测试）

　　挑战芯片低温极限                     

　　1、测试目的与实际意义

　　随着电子设备应用场景的不断拓展，从寒冷的户外到航空航天的极端低温环境，芯片需要在低温条件下保持稳定运行。

　　LTOL测试专注于评估芯片在低温环境下长时间工作的可靠性和稳定性。LTOL测试通过精确模拟芯片在实际应用中的低温工作条件，严格检测芯片是否能够在规定的时间内正常运行，及时发现可能出现的性能下降、功能失效等问题，为芯片在低温环境下的应用提供了可靠的质量保障。

　　2、定制化的测试条件

　　测试温度通常设定为-40℃或更低，具体温度根据芯片的应用场景和规格要求灵活调整。在摄像头、路由器、航天航空、手机等终端产品中，LTOL测试发挥着不可或缺的作用。例如，摄像头在寒冷的户外环境下需要稳定拍摄，路由器在低温的基站环境中要保持信号传输稳定，航天航空设备中的芯片更是要承受极端低温的考验，手机在低温环境下也要确保各项功能正常运行。常规测试条件为-40℃、1000h，这一严格的测试条件确保了芯片在低温环境下的可靠性经得起考验。

　　

　　CTI华测检测拥有专业的第三方半导体检测实验室，同时也是唯一能够提供业界最广泛使用的超高功耗老化设备HPB-4B的验证实验室。HPB-4B设备支持高达600W的单颗IC功耗，已成功验证多类超高功耗IC。

　　CTI华测检测可为客户提供全面而精准的HTOL和LTOL测试服务，还可提供测试机台的老化板设计服务。我们用专业的设备确保验证结果和数据，为产品质量保驾护航。

　　后期将为大家详细介绍HTOL测试硬件及测试板功能验证等内容，进一步揭开芯片高温工作寿命测试的神秘面纱。