电光探测/电光频率成像分析（ EOP/EOPM ）

电光探测/电光频率成像分析（ EOP/EOPM ）

电光探测/电光频率成像（Electro Optical Probing / Electro Optical Frequency Mapping or Laser Voltage Image+Probe，简称 EOP/EOPM or LVX）。是一项结合先进光学技术和电子工程技术的专业服务。它利用电光效应（EO）原理，通过激光束与芯片表面或内部结构的相互作用，实现对芯片性能、材料特性以及失效机理的精确分析和评估。EOP/EOPM技术为芯片设计、制造、测试及失效分析等领域提供了强大的技术支持。

CTI华测检测凭借先进的设备和专业的技术团队，为客户提供高质量、高效率的EOP/EOPM服务，为芯片设计、制造、测试及失效分析等领域提供了强大的技术支持，助力客户在激烈的市场竞争中取得优势。

服务优势

1.高精度测量

EOP/EOPM技术具有高精度、高分辨率的特点，能够捕捉到微小的信号变化和材料特性差异。

2.非接触式检测

无需接触芯片表面，避免了对样品的损伤和污染，特别适用于高精密度和高可靠性要求的芯片产品。

3.快速响应

EOP/EOPM技术能够迅速响应信号变化，实时反映芯片的工作状态，提高检测效率。

4.强大分析能力

结合先进的图像处理和数据分析技术，EOP/EOPM技术能够深入挖掘芯片内部的信号传输规律和失效机理，为客户提供全面的分析报告和解决方案。

服务流程