汽车芯片电子可靠性试验 华测检测 
汽车芯片电子可靠性试验
AEC-Q100、AEC-Q101、AEC-Q102、AEC-Q200、AEC-Q104等多个系列的测试认证服务。
CTI华测检测可您提供汽车芯片电子可靠性试验，包括AEC-Q100、AEC-Q101、AEC-Q102、AEC-Q200、AEC-Q104等多个系列的测试认证服务。
业务挑战
车用电子协会(AEC，Automotive Electronics Council)为了让电子组件的验证有一个共同的参考验证内容，因此根据产品类别陆续制定了不同验证标准，让各家电子组件厂商欲进入车用市场时，有一个适当的验证基础。
在AEC的相关规范中，明确定义，没有所谓的认证(Certification)的机制，强调是属于自我宣告以及买卖双方的合约，强调产品家族观念，并且重视制程质量管控(SPC)的要求，标准严格更甚于传统以JEDEC为验证主轴的消费型产品市场。
汽车芯片电子可靠性试验
▌ AEC验证分类
1.AEC-Q系列验证分类
根据零件群组类别进行区分。其中AEC-Q103为2019年度新公告针对MEMS相关产品之测试应用，使得整体应用上更为完整。
| AEC-Q系列车用电子产品验证 | AEC-Q100 Integrated Circuit |
| AEC-Q101 Discrete Semiconductors | |
| AEC-Q102 Photo-electronics | |
| AEC-Q103 MEMS | |
| AEC-Q104 MCM | |
| AEC-Q200 Passive Components |
2.产品耐温等级
根据零件在车辆使用的位置区分为四个等级，与传统使用的JEDEC 47不同处在于，AEC定义为测试环境温度Ta，非Tj，因此相对严苛，也使得欲进行验证之厂家多了一些难度与门坎。
| Grade | Ambient Operation Temperature Range |
| 0 | -40°C to +150°C |
| 1 | -40°C to +125°C |
| 2 | -40°C to +105°C |
| 3 | -40°C to +85°C |
▌ AEC-Q系列与JEDEC 47的比较
| Description | JEDEC 47 | AEC Q100 |
| Test items | 以试验项目为主 | 自开发至试验 |
| Test sample size | 相对较少 | 相对较多 |
| Test duration / cycles | 较短 | 较长(以使用寿命回推) |
| Temperature | 采用产品Tj | 采用环境Ta |
| Data collection | 以承认为主 | 自产品开发开始 |
| Family application | 有定义 | 定义含括范围 |
| Engineering change | 明确定义 | 明确定义 |
| Life prediction | 说明较简易 | 明确定计算方式 |
| SPC calculation | 较少 | 强调应用 |
| Pb-Free consideration | 较少 | 纳入验证标准 |
| DPA process | 未提及 | 纳入验证标准 |
| Criteria | 较简易 | 允收规格明确 |
服务优势
CTI华测检测着重于半导体产品领域验证，结合失效分析、ESD静电测试、硬件设计服务、可靠性试验等，形成一个完整的服务网络，协助客户快速进入车用电子市场。除了产品质量验证外，CTI华测检测并提供教育训练与系统辅导机制，确保整个产品开发过程详实完整。
服务流程
常见问题
- Q1：实验多久后可以取得报告？
正常周期5~7个工作日，如需加急，请与业务联系。 - Q2：是否可以提供实验设计方案?
为品质生活传递信任
一键下单 流程透明
专业服务 权威公正
传递信任 彰显品质
根植中国 服务世界
热线电话