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AEC-Q100、AEC-Q101、AEC-Q102、AEC-Q200、AEC-Q104等多个系列的测试认证服务。

CTI华测检测可您提供汽车芯片电子可靠性试验，包括AEC-Q100、AEC-Q101、AEC-Q102、AEC-Q200、AEC-Q104等多个系列的测试认证服务。

汽车电子芯片，分立器件，光电元器件，传感器，多芯片模组，被动元器件等车用电子、零部件的可靠性认证（AEC-Q100、101、102、103、104、200）

车用电子主要依据AEC作为车规验证标准，AEC目前主要是针对车载应用，汽车零部件，汽车车载电子实施标准规范，建立质量管理控制标准，提高车载电子的稳定性和标准化。

提供完整的半导体产品芯片可靠性试验项目，协助客户通过JEDEC、MIL—STD、AEC-Q等可靠性国际试验标准

提供完整的半导体产品芯片可靠性试验项目，协助客户通过JEDEC、MIL—STD、AEC-Q等可靠性国际试验标准

CTI华测检测可提供完整的芯片封装可靠性环境试验项目，包含技术整合咨询、实验设计规划、硬件设计制作、环境应力试验、封装品质试验等一站式服务，协助客户通过JEDEC、MIL—STD、AEC-Q等可靠性国际试验标准

基于先进技术和大数据分析，进行精确的芯片寿命预测和性能分析

芯片产品寿命预估服务是一项基于先进技术和大数据分析的专业服务，旨在为客户提供精确的芯片寿命预测和性能分析。

提供完整的芯片产品老化寿命试验项目，协助客户通过JEDEC、MIL—STD、等可靠性国际试验标准

提供完整的芯片产品老化寿命试验项目，包含技术整合咨询、实验设计规划、硬件设计制作、可靠性试验、寿命预估等一站式服务，协助客户通过JEDEC、MIL—STD、AEC-Q等可靠性国际试验标准。

提供完整的芯片产品老化寿命试验项目，协助客户通过JEDEC、MIL—STD、等可靠性国际试验标准

提供完整的芯片产品老化寿命试验项目，包含技术整合咨询、实验设计规划、硬件设计制作、可靠性试验、寿命预估等一站式服务，协助客户通过JEDEC、MIL—STD、AEC-Q等可靠性国际试验标准。

芯片静电ESD测试是半导体产品先期质量验证的重要关键指针，避免芯片在生产或使用过程中被静电放电所损伤,静电放电防护电路,ESD耐压能力,静电防护能力测试

芯片静电防护能力ESD测试是半导体产品先期质量验证的重要关键指针，CTI华测检测已通过CNAS/ISO17025/ISO9001资质认可，ANSI/ESD S20.20静电防护体系认证。可为您提供芯片防静电能力测试，测试数据准确可靠，实验室信息管理系统，保障每个服务环节的高效、保密运转。

集成电路芯片、分立器件、晶体管等元器件的耐湿性测试

HAST一般称为高加速温湿度应力试验或是高加速应力试验。CTI华测检测HAST测试实验室通过施加严酷的温度、湿度并提高水汽压力，水汽通过封装材料或管脚渗透，用来评价元器件在潮湿环境中的可靠性，CTI拥有专业资质、经验丰富的技术专家团队，同时可根据客户的技术需求，定制推荐合理的测试方案。