活动预告 | CTI邀您参加汽车电子认证方法论与失效分析技术交流会

　　随着新能源汽车市场的扩大，对汽车电子产品的需求也将持续增长，企业需要加大技术创新和产品研发的投入，提升产品质量和服务水平，以满足市场需求并赢得市场份额。为应对需求，汽车电子行业不断探索和发展各种认证方法和失效分析手段。这些方法不仅可以帮助设计企业满足市场需求，还可以帮助他们提高产品质量和竞争力。

　　2024年7月25日，在南京集成电路产业服务中心主办“汽车电子认证方法论与失效分析技术交流会”，CTI华测检测受邀参加并发表主题演讲。本次活动邀请从业20年的业内博士及技术专家，为大家带来汽车电子认证方法中涉及到一系列测试和评估流程、失效分析手段等演讲和案例分享。同时邀请了在汽车电子领域成功推出产品的芯片企业带来产品介绍和经验分享。

　　希望能为车规芯片设计公司企业、上下游供应链以及有意向进入该领域的芯片企业带来启发和思考。期待您的参与。

　　汽车电子认证方法论&失效分析技术交流会

　　时间：2024年7月25日14:00-17:00

　　地址：南京市江北新区华富路1号4栋芯火平台7楼芯火厅

　　会议议程

　　14:00-14:15     国家芯火平台芯片测试验证公共服务与技术介绍——（ICisC）

　　14:15-15:00     汽车电子认证方法论——（华测蔚思博检测技术有限公司）

　　15:00-15:30     可靠性测试介绍——（南京精于勤检测公司）

　　15:30-15:50     芯片企业产品介绍及产品技术方案——（南京英锐创电子科技有限公司）

　　15:50-16:30     透过失效分析手段克服挑战——（华测蔚思博检测技术有限公司）

　　16:30-17:00     交流环节

　　研讨会报名

　　长按识别二维码报名参与

　　联系窗口

　　报名事宜可咨询华测蔚思博：

　　张茜181-3007-1986

　　崔俊133-9139-1644